مواد سائنس کے لیے پی این این ایل کا نیا اے آئی ماڈل انسانی مداخلت کے بغیر الیکٹران خوردبین کی تصاویر میں نمونوں کی شناخت کر سکتا ہے۔ یہ الیکٹران خوردبین پر خود مختار تجربے کے لیے ایک رکاوٹ کو بھی دور کرتا ہے۔ عام طور پر، تابکاری کے نقصان جیسے رجحان کو سمجھنے کے لیے اے آئی ماڈل کو تربیت دینے کے لیے، محققین بہت محنت سے ایک ہاتھ سے لیبل شدہ ڈیٹا سیٹ تیار کرتے ہیں، جو دستی طور پر تابکاری سے تباہ شدہ علاقوں کا سراغ لگاتے ہیں۔ ڈیٹا سیٹس کو ہاتھ سے لیبل لگانا مناسب نہیں ہے۔