ন্যাশনাল রিনিউয়েবল এনার্জি ল্যাবরেটরি (এন. আর. ই. এল)-এর গবেষকরা আই. ই. ই জার্নাল অফ ফটোভোলটাইকসে প্রকাশিত একটি সাম্প্রতিক পর্যালোচনা নিবন্ধে ভবিষ্যতের সম্ভাব্য নির্ভরযোগ্যতার প্রভাবগুলি সনাক্ত করতে সহায়তা করেছেন। মূল পিভি প্রবণতাগুলি চারটি বিভাগে পড়েঃ মডিউল স্থাপত্য, আন্তঃসংযোগ, দ্বিমুখী প্রযুক্তি এবং কোষ প্রযুক্তি নিবন্ধটি পিভি বাজারের প্রতিবেদন থেকে স্ফটিক সিলিকন মডিউল সম্পর্কে তথ্য সংশ্লেষিত করে। 11টি প্রবণতার প্রত্যেকটির জন্য, লেখকরা প্রযুক্তি চালিকাশক্তি (যেমন উন্নত কর্মক্ষমতা, খরচ বা স্থায়িত্ব), স্থাপনার অনুমান, নির্ভরযোগ্যতার প্রভাব, মিটিগার বিকল্পগুলি বিশ্লেষণ করেছেন।