সামগ্ৰী বিজ্ঞানৰ বাবে পি. এন. এন. এল.-ৰ নতুন এ. আই. মডেলটোৱে মানুহৰ হস্তক্ষেপ অবিহনে ইলেক্ট্ৰন মাইক্ৰস্কোপ ছবিসমূহৰ আৰ্হি চিনাক্ত কৰিব পাৰে। ই ইলেক্ট্ৰন মাইক্ৰ 'স্কোপৰ ওপৰত স্বায়ত্তশাসিত পৰীক্ষা-নিৰীক্ষাৰ বাবে এটা বাধাও আঁতৰাই দিয়ে। সাধাৰণতে, বিকিৰণৰ ক্ষতিৰ দৰে পৰিঘটনা বুজিবলৈ এটা এ. আই. মডেলক প্ৰশিক্ষণ দিবলৈ, গৱেষকসকলে কঠোৰ পৰিশ্ৰম কৰি হাতেৰে লেবেল কৰা ডাটাসেট প্ৰস্তুত কৰিব, বিকিৰণ-ক্ষতিগ্ৰস্ত অঞ্চলবোৰ হাতেৰে অনুসৰণ কৰিব। হাতেৰে ডাটাসেটবোৰ লেবেল কৰাটো আদৰ্শ নহয়।